硅与其他。资料中半导体。集成资料在。电路集成电路。比较使用中的资料中比较可从以下维度打开剖析:
一、根底特性比照 。集成
资料 。 | 带隙(eV)。比较 | 电子迁移率(cm²/(V·s))。资料中 | 热导率(W/(m·K))。集成 | 击穿电场(MV/cm)。电路 |
---|---|---|---|---|
。比较硅(Si)。资料中 。集成 | 1.12。电路 | 1500 。 | 150 。 | 0.3。 |
锗(Ge)。 | 0.67。 | 3900。 | 60。 | 0.1。 |
砷化镓(GaAs)。 | 1.42。 | 8500。 | 55。 | 0.4 。 |
碳化硅(SiC) 。 | 3.26。 | 900 。 | 490。 | 3.0 。 |
氮化镓。(GaN) 。 | 3.4。 | 2000 。 | 130。 | 3.3 。 |
二、中心优势范畴 。
。硅资料。 。
。干流逻辑芯片 。:全球95%的集成电路选用硅基制作,因其本钱低(12英寸晶圆本钱仅为砷化镓的1/10)、工艺老练(支撑3nm制程)14 。
。集成度优势。 :硅晶圆直径可达300mm,单晶缺点率低于0.1/cm²,合适超大规模集成814。
。氧化层特性。 :天然生成的SiO₂绝缘层(介电常数3.9)是。MOSFET。器材的抱负介质28 。
。化合物半导体。。
。高频使用 。 :砷化镓电子迁移率是硅的5.7倍,适用于。5G 。毫米波(>30GHz)器材49 。
。功率器材 。:碳化硅击穿电场强度达硅的10倍 ,可使电动汽车。逆变器。损耗下降70%112。
。光电。转化 。:磷化铟(InP)在光